1.      儀器設(shè)置：

（1） 基本主菜單

①    范圍：根據(jù)工件的厚度確定

②    聲速為5920米/秒

（2） 斜探頭主菜單

①探頭角度為“0

2.儀器校準(zhǔn)

（1） 將探頭偶合到CSK-ⅢA試塊上，調(diào)節(jié)探頭零點(diǎn)，使一次底波和二次底波分別對(duì)應(yīng)相對(duì)水平刻度，此時(shí)探頭零點(diǎn)顯示值即為該值探頭零點(diǎn)（如果不校準(zhǔn)，一般設(shè)為0.8-09）

    3.測(cè)量

①范圍：當(dāng)厚度較小時(shí)，一般范圍為厚度的五倍；當(dāng)厚度較大時(shí)范圍為厚度的2倍

②如果材料厚度較大時(shí)，主要看始波與一次回波之間有沒(méi)有超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)的波或一次回波下降程度。

③如果材料厚度較小時(shí)，主要看一次回波與二次回波之間有沒(méi)有超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)的波或一次回波下降程度。有時(shí)需要看一次回波后面有無(wú)缺陷波

二、斜探頭

1.儀器設(shè)置

（1） 基本主菜單

①    范圍：100

2.儀器校準(zhǔn)

①    將探頭偶合到CSK-Ⅰ試塊相應(yīng)位置，調(diào)節(jié)探頭零點(diǎn)，使100圓弧和50圓弧反射波分別對(duì)應(yīng)相應(yīng)的水平刻度，此時(shí)的探頭零點(diǎn)顯示值即為該斜探頭零點(diǎn)，同時(shí)讀出此時(shí)探頭的前沿，記錄并輸入儀器

②    將探頭偶合到K值校準(zhǔn)位置，找到*高波，如此時(shí)探頭前沿對(duì)應(yīng)的刻度值與K 值吻合，則K值校準(zhǔn)完畢，如誤差大于0.1，則該探頭不再使用

3.測(cè)量

（1）基本主菜單

①當(dāng)使用一次波測(cè)量時(shí)，范圍為≥   d2+k2d2  ;當(dāng)使用一次波測(cè)量時(shí)，范圍為≥2  d2+k2d2

②聲速為3230米/秒

③輸入已經(jīng)校正的該探頭延時(shí)

（2）斜探頭主菜單

①    探頭角度為“校準(zhǔn)值”

②    厚度≧材料厚度

（2） 進(jìn)行測(cè)量

①只要在相應(yīng)的靈敏度下，有波出現(xiàn)即為傷波，同時(shí)根據(jù)DAC曲線(xiàn)或計(jì)算法給缺陷定性定量